 |
|
 |  |
|
|
| |
 | Biologie | Chimie | Didactica | Fizica | Geografie | Informatica |
| Istorie | Literatura | Matematica | Psihologie |
Universitatea Politehnica Bucuresti
Facultatea de Automatica si Calculatoare
. Se considera circuitul din figura 1.
Figura 1
Sa se calculeze un set complet de teste pentru defectul G1 b-l-1. Utilizati pentru calculul testului atat un algoritm deterministic cat si diferenta Booleana. Comparati rezultatele obtinute. Determinati toate celelalte defecte detectate prin testul calculat. Determinati toate celelalte defecte detectate prin testul calculat.
Pentru calculul testului printr-un algoritm deterministic am folosit algoritmul D :
|
Decizii |
Implicatii |
Observatii |
|
G1 = 0/1 = D' (a,b) != (0,1) sau (1,0) sau (0,0) |
Activez defectul |
|
|
G2 = 0 |
G4 = D' (G5,e) = (0,1) sau (1,0) sau (0,0) |
Propagarea prin G4 |
|
f' = 1 |
f = 0 Z = D' |
Propagarea prin G3 |
Din G5 = 0 rezulta (c+d)' = 0 , deci c+d = 1 rezulta c=1, d=0 sau c=1,d=1 sau c=0, d=1
2)Prin diferenta Booleana.
.
Notam 
.
Deci 
sau 
.
si 
si 
sau
.
Contradictie.
Deci ramane 
si 
.
Am obtinut prin ambele metode acelasi set de teste complet pentru detectia defectului G1 b-l-1.
Se considera
circuitul din figura 2 (a) unde f
si f 
sunt circuite
combinationale definite prin diagramele Karnaugh din figura 2 (b).Se cere :
(a) Gasiti
toate testele care detecteaza defectul d din circuitul f, d fiind definit prin
modificarea functionarii circuitului f astfel incat acesta functioneaza dupa diagrama Karnaugh f
din figura 2 (c).
(b) Gasiti
toate testele care detecteaza defectul d din f , d fiind definit prin modificarea functionarii circuitului f astfel incat acesta functioneaza dupa diagrama Karnaugh f din figura 2 (d), in ipoteza ca circuitul f functioneaza corect..
(c) Gasiti toate testele care detecteaza defectul multiplu .
x
|
x3 x1x2 | ||||
(y, y) = f(x,x,x
)
|
x3 x1x2 | ||||
(y, y) = f(x, x, x)
|
y2 x1y1 | ||||
z = f ( x, y, y)
|
y2 x1y1 | ||||
z = f ( x, y, y)
a) Valorile functiei f1 difera de cele ale functiei f1* pentru (x1,x2,x3) in multimea .
Daca x1 = x2 = x3 = 0 atunci vom avea y1 = 0 si y2 = 1 in loc de y1 = 0 si y2 = 0.
La iesirea circuitului se va obtine z = 1/1 = 1, deci defectul nu este detectat.
Daca luam x1 = x2 = x3 = 1 atunci vom avea y1 = 0/1 si y2 = 1/1 = 1.
La iesire se obtine z = 1/0 = D, deci defectul va fi detectat la iesire de testul (1,1,1).
b) Valorile functiei f1 difera de cele ale functiei f1* pentru (x1,y1,y2) in multimea .
Daca luam x1 = 0 , y1 = 1 si y2 = 0 , la iesire se obtine z = 1/0 = D, deci defectul e detectat. Pentru acest caz x2 = 1 si x3 = 0 (pentru a obtine y1 = 1 si y2 = 0 la iesirea lui f1).
Daca luam x1 = 0 , y1 = 0 si y2 = 1 , la iesire se obtine z = 1/0 = D, deci defectul e detectat. Pentru acest caz x2 = 1 si x3 = 1.
Daca luam x1 = 1 , y1 = 1 si y2 = 1 , la iesire se obtine z = 0/1 = D', deci defectul e detectat. Pentru acest caz x2 = 1 sau x2 = 0 si x3 = 1.
Testele care detecteaza defectul sunt :
c) Privim tabelele corespunzatoare lui f ( x, y, y) si f ( x, y, y). Se ingroseaza casutele care difera. Observam ce x, y, y corespunde acestor casute.Privim apoi in tabela f
si determinam x, x, x.
Primul caz :
f
( x, y, y)= f ( 0,1,0) (x, x, x) = nu exista
Al doilea caz:
f
( x, y, y) = f ( 0,0,1) (x, x, x) = (0, 0, 0)
Al treilea caz:
f ( x, y, y) = f ( 1,1,1) (x, x, x) = (1, 1, 1)
Pentru circuitul din figura 3 se considera un defect d care se caracterizeaza prin modificarea functiei portii G6 astfel incat aceasta genereaza o valoare 1 la iesire daca si numai daca ambele sale linii de intrare au fie valoarea 0, fie valoare 1. Sa se gaseasca testele care detecteaza acest defect.
Pentru circuitul afectat de defecte, iesirea va fi :
|
G5 |
G4 |
G6 |
iar pentru cel liber de defecte :
|
G5 |
G4 |
G6 |
deci singurul caz in care defectul nu va fi defectat este cazul in care G4 = G5 = 1.
Dar in circuit nu putem avea G4 = G5 = 1.
Daca am avea G4 = G5 = 1 rezulta ca G4 = G2' · G3 = 1 deci G2' = G3 = 1 , adica G2 = 0.
G5 = B · G2 = 1 , deci G2 = B = 1 contradictie cu G2 = 0.
Deci vectorii care detecteaza defectul sunt toti vectorii de intrare.
Pentru circuitul din figura 3 calculati toate testele care detecteaza defectul multiplu A b-l-1, G6 b-l-0.
|
A |
B |
C |
D |
G |
G |
G |
G |
G |
G |
|
A |
B |
C |
D |
G |
G |
G |
G |
G |
G |
Comparam valorile lui G
cu valorile lui G unde
acestea difera transcriem testele din prima tabela.
. Considerand circuitul din figura 4, calculati toate defectele care detecteaza defectele:
(a) A b-l-0; (b) b b-l-1; (c) G2 b-l-1; (d) defectul multiplu b b-l- 1, G2 b-l-1.
(a) Folosind algoritmul D:
|
Decizii |
Implicatii |
Observatii |
|
A = 1 B = 1 G1 = 1/0 = D |
Activez defectul |
|
|
G3 = 0 G5 = 0 |
G4 = D D = 1 C = 0 |
Propagarea prin G4 |
Vectorul de test este (1,1,0,1).
(b) Folosind algoritmul D:
|
Decizii |
Implicatii |
Observatii |
|
B = 0 A = 1 G1 = 0/1 = D' G2 = 1 G4 = 1 |
Activez defectul |
Deoarece se obtine G4 = 1, defectul nu este detectabil.
(c) Folosind algoritmul D:
|
Decizii |
Implicatii |
Observatii |
|
G2 = 0/1 = D' D = 1 B = 1 |
Activez defectul |
|
|
G1 = 0 G3 = 0 |
A = 0 C = 0 G4 = 0/1 = D' |
Propagarea prin G4 |
Vectorul de test este (0,1,0,1).
Relativ la circuitul din figura 4 stabiliti:
(a) Toate testele care disting defectul A b-l-0 de defectul G2 b-l-1.
(b) Existenta unui vector de intrare care sensibilizeaza atat defectul A b-l-0 cat si defectul G2 b-l-1 in acelasi timp? In caz afirmativ, va fi acest vector de intrare un test al defectului multiplu A b-l-0, G2 b-l-1?
(a) Testele care disting defectul A b-l-0 de defectul G2 b-l-1 sunt (1,1,0,1) si (0,1,0,1).
(b)
Singurul test care detecteaza defectul este
0101 dar care detecteaza numai defectul lui G
nu si defectul multiplu.
Un decodificator este un circuit combinational care are n linii primare de intrare si m = 2n linii primare de iesire, etichetate (x0,x1, . ,xn-1) respectiv (z0,z1, . , zm-1). Circuitul functioneaza astfel: Daca (a0,a1, . ,an-1) este un vector binar de valori ale liniilor primare de intrare, reprezentand intregul k (2n-1 ≥ k ≥ 0) atunci zk = 1 iar zj = 0 pentru toti indicii j ≠ k. Determinati, in baza functionarii acestui dispozitiv, un set minimal complet de teste care vor detecta orice defect blocaj singular situat pe una dintre liniile primare ale circuitului.
Setul minimal de teste este .
Testul (0,0,..,0) poate fi folosit pentru detectia blocajelor de tip b-l-1 de pe liniile primare de intrare, iar (1,1,..,1) pentru detectia blocajelor de tip b-l-0 de pe LPI.
Copyright © 2024 - Toate drepturile rezervate
